EddyCus® map 2530系列 

非接觸片狀電阻、金屬層厚度、電阻率和電各向異性繪圖裝置

EddyCus® map 2530系列在非接觸模式下自動測量大型樣品的薄層電阻，最大可達300 x 300 mm2（12 x 12英寸）。在手動定位樣品后，設(shè)備會自動測量并顯示整個樣品區(qū)域的薄層電阻的精確圖譜。測量設(shè)置允許輕松靈活地選擇低于1分鐘的快速測量時間或超過10萬個測量點的高空間測量分辨率。

特征

技術(shù)：非接觸式渦流

通過多點測繪成像

定位區(qū)域：300 mm x 300 mm

采樣區(qū)域：300 x 300 mm

推薦的樣品尺寸。1英寸到12英寸或25到300毫米

類型

片狀電阻成像 – EddyCus® map 2530SR [mOhm/sq, Ohm/sq, OPS]

金屬厚度成像 – EddyCus® map 2530MT [nm, µm, mm, mil]

電阻率和電導率成像 – EddyCus® map 2530RM [mOhm*cm, MS/m]

Anisotropy imaging – EddyCus® map 2530A (MD/TD)

濕涂層厚度和殘余水分成像 – EddyCus® map 2530HF [%]

軟件和設(shè)備控制

非常方便用戶的軟件

實時測繪

易于使用的統(tǒng)計分析選項

預(yù)先定義的測量和產(chǎn)品配方（尺寸、間距、閾值）。

線掃描、直方圖和區(qū)域分析

黑色和彩色的圖像編碼

Csv和pdf輸出

PC匯總和輸出

3個用戶級別

用于參數(shù)轉(zhuǎn)換的材料數(shù)據(jù)庫

邊緣效應(yīng)補償

數(shù)據(jù)的存儲和導入

輸出數(shù)據(jù)集（例如，輸出到EddyEva、MS Excel、Origin）。